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>>恒溫恒濕試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)
恒溫恒濕試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)

時間:2012/2/10
 
    恒溫恒濕試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有:GB/T2423.3  GB/T10586-2006  GB/T5170.5-2008等標(biāo)準(zhǔn),也可根據(jù)客戶的要求非標(biāo)定做。
    GB/T2423.3 電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
    GB/T2423.3適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件或設(shè)備在高濕度的條件下使用、貯存和運(yùn)輸時的適應(yīng)性。
    規(guī)定了試驗(yàn)和嚴(yán)酷等級、如高溫度、高濕度和持續(xù)時間等。適用于散熱和非散熱樣品。
    適用于小型設(shè)備及元件,同時也適用于與試驗(yàn)箱外的測試裝置有復(fù)雜連接的大型設(shè)備,這種連接需要一定的裝配時間。在安裝期間,可以不用預(yù)熱或維持特定的試驗(yàn)條件。
    GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
    GB/T10586-2006規(guī)定了溫?zé)嵩囼?yàn)箱的術(shù)語和定義、使用條件、技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、貯存。
    適用于對電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行溫?zé)嵩囼?yàn)的試驗(yàn)箱。
    GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
    GB/T5170.5-2008規(guī)定了溫?zé)嵩囼?yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。
    適用于對GB/T2423.3《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T2423.4《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T2423.16《電子電工產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J:長霉》所用戶試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。
    適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。
 
相關(guān)資料
·恒溫恒濕試驗(yàn)箱所滿足的標(biāo)準(zhǔn)
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